| 测量范围 | 0.75-300mm |
|---|---|
| 电源电压 | 1.5V |
| 分辨率 | 0.1mm |
| 精度 | 0.01mm |
| 类型 | 薄膜测厚仪 |
| 外形尺寸 | 150*74*32mm |
| 显示方式 | LCD |
| 重量 | 1Kg |
| 品牌 | MICRO-EPSILON |
| 型号 | MICRO-EPSILON |
| 加工定制 | 否 |
| 测定对象 | 珐琅 |
MICRO-EPSILON激光位移传感器测厚仪
德国米铱公司新推出的thicknessSENSOR激光位移传感器测厚仪，可被用于多种需要非接触厚度测量的应用。该测厚仪采用激光位移传感器作为测量单元，实现了高测量精度的同时，还满足了高速和使用简单的需要。
thicknessSENSOR激光测厚仪是一套完整的集成系统，适用于带状或板状材料的非接触测量任务。系统包括两支正对固定安装的激光位移传感器，可以从两侧对被测物进行厚度测量。被测物的厚度值源自差分测量原理，全部计算在集成的评估单元中完成。
激光测厚仪系统可以输出模拟量信号（如电压或电流信号），或者输出数字量（如Ethernet）。源自激光测厚仪的紧凑尺寸，用户可以在安装空间受限的情况下也可以轻松使用。
的网络调试界面使新款thicknessSENSOR的使用更加方便，针对不同的测量任务，客户可以读取预存的独立参数设置。该系统多可以存储和输出8个客户定义传感器设置。测量结果可以通过信号峰值选择和自由可调的信号平均功能进行优化。
激光位移传感器测厚仪特点：
√ 量程 10 mm
**误差可达 10 μm
√ 轻松集成：采用高度协调的测量传感器，使整个系统达到即插即用
√ 采用网络界面进行调试
√ 实现高动态、高精度测量
√ 非接触无磨损厚度测量
√ 紧凑集成系统
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